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            • 日本电子热场发射扫描电子显微镜 适用于纳米材料、化学、新材料、半导体器件的观察和分析。
            • 日本电子扫描电镜 、日本JEOL扫描电子显微镜JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。
            • 日本电子扫描电子显微镜 JCM-700强大的“Zeromag“功能,让您从光学显微镜的观察方式,轻松的无缝接轨到扫描电镜的影像观察?!癓ive Analysis“则实现了SEM影像观察时实时的EDS成份分析。
            • 扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。悬臂和样品始终保持接触,控制悬臂与样品之间的相互作用保持一定状态下,扫描样品表面的模式。这是Z典型的AFM模式,可以得到目前Z高分辨率图像。悬臂在谐振频率附近震动。在悬臂震动的状态下悬臂接近样品时振幅会发生变化。
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